V
Scaner-VS
HomeCatalogSourcesCWECAPECATT&CKMitigationsProductsVendorsDocs
BDU:2026-00357
BDU
Medium

Уязвимость микроконтроллеров Microchip SAM связана с неправильной защитой от сбоев напряжения и тактовой частоты. Эксплуатация уязвимости м…

CVSS
6.3
Medium
EPSS
0.00
p0
Published
2026-01-01
Updated
2026-01-01
Description

Уязвимость микроконтроллеров Microchip SAM связана с неправильной защитой от сбоев напряжения и тактовой частоты. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю получить доступ к защищаемой информации

Affected products
Microchip technology Sam 3nMicrochip technology Sam 3sMicrochip technology Sam 3uMicrochip technology Sam 4cMicrochip technology Sam 4eMicrochip technology Sam 4nMicrochip technology Sam 4sMicrochip technology Sam e70Microchip technology Sam g55Microchip technology Sam s70Microchip technology Sam v70Microchip technology Sam v71
CVSS vector
CVSS:3.1/AV:P/AC:H/PR:N/UI:R/S:U/C:H/I:H/A:H
Timeline
2026-01-01
Published
2026-01-01
Updated
CVSS 3.1 breakdown
Attack Vector
AV: P
Physical (P)
Attack Complexity
AC: H
High (H)
Privileges Required
PR: N
None (N)
User Interaction
UI: R
Required (R)
Scope
S: U
Unchanged (U)
Confidentiality Impact
C: H
High (H)
Integrity Impact
I: H
High (H)
Availability Impact
A: H
High (H)
Exploit indicators
EPSS
0.000 · p0
Known exploited (KEV)
No
Known exploits — Сканер-ВС
No Сканер-ВС checks registered for this vulnerability yet.
Affected products
ProductVendorStatus
sam 3nmicrochip technologyTracked
sam 3smicrochip technologyTracked
sam 3umicrochip technologyTracked
sam 4cmicrochip technologyTracked
sam 4emicrochip technologyTracked
sam 4nmicrochip technologyTracked
sam 4smicrochip technologyTracked
sam e70microchip technologyTracked
sam g55microchip technologyTracked
sam s70microchip technologyTracked
sam v70microchip technologyTracked
sam v71microchip technologyTracked